Шановні колеги!

Ми запрошуємо вас взяти участь в міжнародному науково-практичному семінарі "Оксидні матеріали для електронної техніки - виготовлення, властивості та застосування" (OMEE-2009), яка буде проходити у Львові, Україна, у червні 22-26, 2009 року.

Пленарні лекції (30 хв), усні (15 хв) і стендових доповідей будуть представлені по тематиці від співробітників, які включають в себе фундаментальні та прикладні проблеми в таких галузях:
-Технологія виготовлення складних оксидів (навалом монокристалів, епітаксіальних плівок, полікрісталлов та кераміки, композиційних матеріалів та нано-розмірів структур)
-Крісталліческой структурою, побратимів і мікроструктури оксидних сполук
-Оксідних матеріалів для квантової і оптоелектроніки
-Сцінтіллятором матеріалів та детектори випромінювання
-Дефектів, домішок та явища переносу в складних оксидів кристалів
-Магнитні та магніто-оптичних властивостей складних оксидів
-Пьезо- і піропріемніков властивостей складних оксидів
-Застосування оксидів в галузі електронної інженерії та перетворювача пристрою

Організаційний комітет запрошує Вас взяти участь
у ІІІ Міжнародній науково-практичній конференції
"Забезпечення єдності вимірювань фізико-хімічних та оптико-фізичних величин", яка відбудеться 11 – 13 листопада 2008 р.

На конференції будуть розглянуті такі питання:
– проблеми сучасної хімічної метрології: простежність, невизначеність, міжлабораторні порівняння результатів вимірювання;
– нормативна база: загальні метрологічні вимоги до еталонів, засобів вимірювальної техніки, методик виконання вимірювань, методик повірки (калібрування) засобів вимірювальної техніки;
– наукові дослідження зі створення сучасних методів і засобів відтворення одиниць і передавання їх розмірів;
– системи одиниць величин і шкал вимірювань, основні поняття, терміни і визначення у хімічній метрології;
– системи передавання розмірів одиниць величин від державних еталонів робочим засобам вимірювальної техніки;
– первинні, вторинні і робочі еталони;
– стан і перспективи розвитку приладобудування;
– робочі засоби вимірювальної техніки: розробка, дослідження, випробування, повірка;

SCIENTIFIC PROGRAM

The objective of the Conference is to provide a platform to spread the latest scientific, technical and engineering information as well as to present significant developments in novel information optic-electronic technologies, hybrid optical/digital and IR systems and methods for image/signal processing, pattern recognition and nondestructive testing, optical security devices, spatial light modulators and other optoelectronic components.
The Conference will enable the participants to meet and exchange their experiences and achievements with experts and associate with colleagues from all over the world.
Authors worldwide are invited to submit papers for the fourth International Conference "Photonics-ODS 2008". The program activities include Plenary, Platform and Poster sessions.
TOPICS

• Optoelectronic/digital methods and systems for image/signal processing.
• Systems of technical vision and artificial intellect with processing and recognition of image.
• Optoelectronic computer
• Intelligent technologies in optoelectronic systems.
• Biomedical optoelectronic systems and apparatus.
• Integral and fiber optics and systems
• Optical correlates and optical neural nets.
• Materials and technology of optoelectronic devices and systems.
• Nanotechnologies and micro-laser technologies.
• Spatial light modulators and other optoelectronic devices and components.
• Holographic methods in science and technology.
• Optical method of information saving and storage.
• Sensor control in optical systems.
• Optical security devices.